InAs/GaSb超晶格/GaSb体材料中短波双色红外探测器
投稿时间:2020-08-22  修订日期:2021-09-04  点此下载全文
引用本文:马晓乐,郭杰,郝瑞亭,魏国帅,王国伟,徐应强,牛智川.InAs/GaSb超晶格/GaSb体材料中短波双色红外探测器[J].红外与毫米波学报,2021,40(5):569~575].MA Xiao-Le,GUO Jie,HAO Rui-Ting,WEI Guo-Shuai,WANG Guo-Wei,XU Ying-Qiang,NIU Zhi-Chuan.Mid-/Short-Wave dual-band infrared detector based on InAs/GaSb superlattice /GaSb bulk materials[J].J.Infrared Millim.Waves,2021,40(5):569~575.]
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马晓乐 云南师范大学 云南省光电信息技术重点实验室云南 昆明 650500 xiaolema@semi.ac.cn 
郭杰 云南师范大学 云南省光电信息技术重点实验室云南 昆明 650500 jieggg1020@sina.com 
郝瑞亭 云南师范大学 云南省光电信息技术重点实验室云南 昆明 650500  
魏国帅 云南师范大学 云南省光电信息技术重点实验室云南 昆明 650500  
王国伟 中国科学院半导体研究所 超晶格与微结构国家重点实验室北京100083
中国科学院大学 材料科学与光电子工程中心北京100049 
 
徐应强 中国科学院半导体研究所 超晶格与微结构国家重点实验室北京100083
中国科学院大学 材料科学与光电子工程中心北京100049 
 
牛智川 中国科学院半导体研究所 超晶格与微结构国家重点实验室北京100083
中国科学院大学 材料科学与光电子工程中心北京100049 
 
基金项目:国家自然科学基金资助项目(61774130 11474248, 61176127, 61006085, 61274013,61306013)
中文摘要:采用GaSb体材料和InAs/GaSb超晶格分别作为短波与中波吸收材料,外延生长制备了NIPPIN型短中双色红外探测器。HRXRD及AFM测试表明,InAs/GaSb超晶格零级峰和GaSb峰半峰宽FWHM分别为17.57 arcsec和19.15 arcsec,范围表面均方根粗糙度为1.82。77 K下,SiO2钝化器件最大阻抗与面积乘积值RA,暗电流密度为,侧壁电阻率为。经阳极硫化后,器件最大值为,暗电流密度为,侧壁电阻率为。相同偏压下,硫化工艺使器件暗电流降低1-2个数量级,侧壁电阻率提高了1个数量级。对硫化器件进行了光谱响应测试,器件具有依赖偏压极性的低串扰双色探测性能,其短波通道与中波通道的50%截止波长分别为1.55 和4.62 ,在1.44 、2.7 和4 处,响应度分别为0.415 A/W、0.435 A/W和0.337 A/W。
中文关键词:InAs/GaSb超晶格  GaSb体材料  中短双色  红外探测  侧壁电阻率  低串扰
 
Mid-/Short-Wave dual-band infrared detector based on InAs/GaSb superlattice /GaSb bulk materials
Abstract:Using GaSb bulk and InAs/GaSb superlattice as short wave and medium wave infrared absorbing materials respectively, a short/mid dual-band infrared detectors with NIPPIN structure were epitaxial growth and fabricated. HRXRD and AFM tests show the FWHM of zero order peak of InAs/GaSb superlattice and GaSb peak are 17.57 arcsec and 19.15 arcsec, respectively. Surface root mean square roughness RMS is 1.82 under . At 77 K, the maximum product RA of resistance and area of SiO2 passivated device is , the dark current density is , and side wall resistivity is . After anodic sulfuration, the maximum RA of the device is , the dark current density is , and side wall resistivity is . Sulfurization reduces dark current of the device by more than one order of magnitude and increases side wall resistivity by one order of magnitude under the same bias. The spectral response of the sulfurization device was tested, the device has the bais polarity-dependent dual-band detection performance with low crosstalk. The 50% cutoff wavelengths of the short-wave and medium-wave channels are 1.55 and 4.62, respectively. At 1.44 μm, 2.7 μm and 4 μm,the responsivity are 0.415 A/W, 0.435 A/W and 0.337 A/W, respectively.
keywords:InAs/GaSb superlattice  GaSb bulk material  mid-/short-wave dual-band  infrared detector  side wall resistivity  low optical cross-talk
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《红外与毫米波学报》编辑部