采用干涉型光热位移相位信号测量薄膜热扩散率
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TN247 O484.5

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国家自然科学基金 , 中国工程物理研究院基金


THERMAL DIFFUSIVITY OF FILMS MEASURED BY INTERFERENTIAL PHOTOTHERMAL DISPLACEMENT PHASE SIGNAL
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    介绍了待测样品在激光辐照下光热位移信号的理论表达式,阐述了信号相位与热扩散率以及调制频率之间的关系;基于该关系并结合相关资料,提出了一种新的采用迈克尔干涉检测装置测量热扩散率的简便方法,分析了其相对于传统测量方法的优势.采用该装置对Ti及TiO2复合薄膜样品进行了测量,由光热位移相位信号与调制频率之间的关系,计算得到了待测样品的热扩散率.

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引用本文

陈习权,王汝笠,祖小涛,蒋晓东,郑万国.采用干涉型光热位移相位信号测量薄膜热扩散率[J].红外与毫米波学报,2007,26(6):473~475]. CHEN Xi-Quan, WANG Ru-Li, ZU Xiao-Tao, JIANG Xiao-Dong, ZHENG Wan-Guo. THERMAL DIFFUSIVITY OF FILMS MEASURED BY INTERFERENTIAL PHOTOTHERMAL DISPLACEMENT PHASE SIGNAL[J]. J. Infrared Millim. Waves,2007,26(6):473~475.]

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  • 收稿日期:2006-12-31
  • 最后修改日期:2007-05-10
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