GaAs高速集成电路内部动态特性直接电光采样检测
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TN43

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DIRECT ELECTRO-OPTIC SAMPLING OF INTERNAL DYNAMIC CHARACTERISTIC IN HIGH-SPEED GaAs INTEGRATED CIRCUIT
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    研制成功GaAs高速集成电路直接电光采样测试系统.采用共轴反射式光路,对样品进行背面直接采样.用研制的微波探针在片驱动GaAs高速数字集成电路管芯,使之处于正常工作状态.测试系统的时间分辨率高于20ps,空间分辨率为3μm.利用该系统在片检测了GaAs高速数字集成电路动态分频器内部的高速电信号.

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引用本文

孙伟,田小建,贾刚,孙建国,衣茂斌,马振昌,王国全. GaAs高速集成电路内部动态特性直接电光采样检测[J].红外与毫米波学报,1994,13(5):]. Sun Wei Tian Xiaojian Jia Gang Sun Jianguo Yi Maobin. DIRECT ELECTRO-OPTIC SAMPLING OF INTERNAL DYNAMIC CHARACTERISTIC IN HIGH-SPEED GaAs INTEGRATED CIRCUIT[J]. J. Infrared Millim. Waves,1994,13(5).]

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