首次用光调制反射光谱的实验测量方法,在~10K下对In_(1-x)Al_xSb(0≤x≤0.55)外延层的光跃迁E_1和E_1+△_1及其谱线展宽ω,进行实验测定。由测定结果,得到对E_1和E_1+△_1的弯曲参数分别为0.752eV和0.723eV。
徐尧洲,Y. Beaulieu, J. B. Webb. In_(1-x)Al_xSb外延层的E_1和E_1+Δ_1的光调制反射光谱研究[J].红外与毫米波学报,1993,12(4):]. XU YAOZHOU.[J]. J. Infrared Millim. Waves,1993,12(4).]