联邦德国Alexand von Humboldt基金会部分资助课题
描述了Strip-Line测量技术及其原理.深入讨论了Strip-Line技术在实际应用中模式耦合问题.从实验和理论两方面显示了模式耦合问题在应用Strip-Line技术研究Ⅳ-Ⅵ族铅化物半导体远红外磁光性质中的重要性.
陆卫,M. vonOrtenberg, W. Dobrowolski. STRIP-LINE测量技术在Ⅳ-Ⅵ族半导体远红外磁光光谱中的应用[J].红外与毫米波学报,1992,11(5):]. Lu Wei.[J]. J. Infrared Millim. Waves,1992,11(5).]