用扫描干涉法测定光电系统高频响应
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MEASUREMENT OF HIGH FREQUENCY RESPONSE OF OPTO-ELECTRICAL SYSTEM USING SCANNING FABRY-PEROT INTERFEROMETER
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    提出了用扫描Fabry-Perot干涉仪对光电系统10~500MHz的频率响应进行测试的方法。用信号半值宽度τ_m来估计光电系统的高频截止频率fc,讨论了fc=1/1.7τ_m的理论依据和适用范围。本方法的特点是无需高频光源和高频信号源,即可进行光电系统的高频响应测试。

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叶培德,史珺.用扫描干涉法测定光电系统高频响应[J].红外与毫米波学报,1991,10(3):]. YE PEIDE, SHI JUN. MEASUREMENT OF HIGH FREQUENCY RESPONSE OF OPTO-ELECTRICAL SYSTEM USING SCANNING FABRY-PEROT INTERFEROMETER[J]. J. Infrared Millim. Waves,1991,10(3).]

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