红外光学薄膜监控系统初始化参数自检算法设计
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TB383 TN216

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INITIALIZATION PARAMETER AUTO-CHECK ALGORITHM EXECUTION OF INFRARED THIN FILM MONITORING SYSTEM
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    摘要:

    本文对红外光学薄膜监控系统研究中的初始化参数,包括输入膜系、监控方式、监控波长、材料系数、比较片选项、控制速率和进程膜系以对话框的形式给出,用户在输入参数时程序对用户的输入进行自动监视,确保用户能正确地输入各个参数,使光学薄膜的自动监控提供安全机制,本文还给出了上述自动监视的相应算法。

    Abstract:

    Initialization parameters used in infrared optical thin film monitoring system, including input coatings, monitoring mode, monitoring wavelength, material coefficients, slice options,etc.,were listed in forms of dialog control. When the user inputs these parameters, the application programme can automatically check these parameters' validity to ensure that the contents the user inputs are correct, thus, it supplies a kind of security mechanism for subsequent automatic control of optical thin film process. The corresponding algorithm was also given in this paper.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

胡民锋 朱福荣 等.红外光学薄膜监控系统初始化参数自检算法设计[J].红外与毫米波学报,2001,20(2):133~135]. HU Min Feng ZHU Fu Rong ZHANG Feng Shan. INITIALIZATION PARAMETER AUTO-CHECK ALGORITHM EXECUTION OF INFRARED THIN FILM MONITORING SYSTEM[J]. J. Infrared Millim. Waves,2001,20(2):133~135.]

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  • 最后修改日期:2000-04-18
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