梅林 王裕文 薛锦
TN219
MEI Lin,WANG Yu-Wen,XUE Jin
通过脉冲加热阶段的红外无损检测一维理论模型，提出了一种评估缺陷深度信息的新算法，并给出了有限元模拟检测结果，分析了缺陷大小及脉冲加热时间对检测结果的影响、分析表明，该方法具有较高的检测精度．
梅林 王裕文 薛锦.红外热成像无损检测缺陷的一种新方法[J].红外与毫米波学报,2000,19(6):457~459]. MEI Lin, WANG Yu-Wen, XUE Jin. A NEW METHOD TO EVALUATE THE SUBSURFACE DEFECT BY THERMAL NONDESTRUCTIVE TESTING[J]. J. Infrared Millim. Waves,2000,19(6):457~459.]
