TN213 O484.4
国家863高技术基金
用最新发表的ＨｇＣｄＴｅ材料的光学常数对ＭＢＥ工艺生长的ＨｇＣｄＴｅ／ＣｄＴｅ／ＧａＡｓ材料的透射光谱进行了理论计算，对受生长工艺破坏的衬底背面再次进行抛光处理，消除因表面不平整引起的漫反射效应，使实验测量得到的光谱曲线与理论计算结果很好地吻合，由此得到的ＨｇＣｄＴｅ和ＣｄＴｅ外延层的厚度和解理面上用显微镜测量的数值相同。
杨建荣 王善力.红外透射光谱在HgCdTe外延薄膜性能评价中的应用[J].红外与毫米波学报,1996,15(5):327~332]. Yang Jianrong, Wang Shanli, Guo Shiping, He Li. APPLICATION OF INFRARED TRANSMISSION SPECTRA IN ASSESSMENT OF HgCdTe EPILAYERS[J]. J. Infrared Millim. Waves,1996,15(5):327~332.]
