研制了不同厚度的ＰＶＤＦ：ＴＧＳ复合膜，实验结果表明：膜越薄，其介电常数，介电常数，介电损耗和热释电系数越大，对实验结果做了定性解释。研制了复合薄膜探测器，其Ｄ＊（５００Ｋ，１２．５Ｈｚ）达１．５５×１０＾８ｃｍ．Ｈｚ１／２．Ｗ－１。
郭冠军 徐平茂. PVDF：TGS复合材料介电和热释电性能与膜厚度的关系[J].红外与毫米波学报,1993,12(5):397~403]. GUO GUANJUN. THE RELATION BETWEEN THE THICKNESSES AND THE DIELECTRIC AND PYROELECTRIC PROPERTIES OF PVDF:TGS COMPOSITE MATERIAL FILMS[J]. J. Infrared Millim. Waves,1993,12(5):397~403.]
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