用半导体激光器超高速电光采样技术测量微波信号
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TN248.4

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ELECTRO-OPTIC SAMPLING MEASUREMENT OF MICROWAVE SIGNALS USING A SEMICONDUCTOR LASER
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    利用半导体激光器作为采样光源的超高速电光采样测试系统(时间分辨率最高可达16.7ps,电压灵敏度为0.26mVHz~(-1/2)).测量了1~5GHz的微波信号和同轴电缆传输线的色散展宽.

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引用本文

孙伟 衣茂斌.用半导体激光器超高速电光采样技术测量微波信号[J].红外与毫米波学报,1992,11(1):81~84]. Sun Wei, Yi Maobin, Wang Yianhui Liu Zhongshun, Jia Gang, Gao Dingsan. ELECTRO-OPTIC SAMPLING MEASUREMENT OF MICROWAVE SIGNALS USING A SEMICONDUCTOR LASER[J]. J. Infrared Millim. Waves,1992,11(1):81~84.]

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