窄禁带半导体的自由载流子吸收
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O474

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FREE CARRIER ABSORPTION IN NARROW-GAP SEMICONDUCTORS
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    从理论和实验上研究了77K和300K温度下,本征型半导体InSb,Hg_(1-x)Cd_xTe,Hg_(1-x)Mn_xTe和高掺杂Hg_(1-x)Cd_xTe在2.5~50μm波段范围内的自由载流子吸收,结果表明:对于所研究的三种本征型样品,均是极性光学声子散射起主要作用,对于InSb还应考虑声学声子和电离杂质散射。对有缺陷的Hg_(1-x)Mn_xTe样品,理论计算的自由载流子吸收系数与实验值不一致,表明存在附加的散射机制,对高掺杂Hg_(1-x)Cd_xTe的研究证实了这一假设。还讨论了非弹性电子-声子散射机制的起因,估算了特性参数。

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引用本文

Bely.,AE.窄禁带半导体的自由载流子吸收[J].红外与毫米波学报,1991,10(4):241~245]. A. E. BELYAEV, N. V. SHEVCHENKO. FREE CARRIER ABSORPTION IN NARROW-GAP SEMICONDUCTORS[J]. J. Infrared Millim. Waves,1991,10(4):241~245.]

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