InGaAs/GaAs应变耦合量子阱光学性质的研究
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    用光荧光和光电流实验方法研究了InGaAs/GaAs应变耦合量子阱的光学性质.实验表明,在耦合阱结构中,势垒愈薄,耦合愈强,其对称态←→对称态所对应的跃迁能量比未耦合阱中n=1重空穴激子跃迁能量降低更甚.实验中还观察到具有不同偏振特性的吸收峰,并根据这一特征指认了轻、重空穴的跃迁.用双阱耦合模型计算了耦合阱结构中受限态之间的跃迁能量,理论与实验符合较好.实验研究也表明,在实验样品的In组分下,轻空穴受限在GaAs阱层中.

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引用本文

徐强,徐仲英,庄蔚华. InGaAs/GaAs应变耦合量子阱光学性质的研究[J].红外与毫米波学报,1989,8(2):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1989,8(2).]

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