本文介绍一种测定薄膜材料光学参数的简单方法,该方法根据透过率极值与n、k、d之间的关系算出n、k、d值。用小型机算机很容易实现这个计算。
张凤山,朱玲心,王寿英.测量薄膜材料n、k、d的一种简单方法[J].红外与毫米波学报,1986,5(3):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1986,5(3).]
