本工作依据文献[1]的理论,从实验上最后得出了表面粗糙样品的透射率、反射率与特征粗糙度、吸收系数及波长的具体函数关系,并验证了文献[1]提出的某些关键性的结论,及用透、反射结合方法测量表面粗糙样品参数的可行性。在实际应用中,透、反射结合法所测吸收系数与其他方法所测结果符合较好。
吴华生,吴仲墀,钱佑华.表面粗糙样品吸收系数的测量研究Ⅱ.硅片的实验结果[J].红外与毫米波学报,1985,4(5):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1985,4(5).]
