本文分析了热释电探测器中的噪声源及其对探测器性能的限制作用。推导了一个修正的约翰森-尼奎斯关系式,使之适合于计算介质损耗噪声。本文得出如下结论:1)小电容响应元热释电探测器中,FET产生的介质损耗噪声是主要的噪声源;2)悬于真空中的自由支撑热释电探测器中有一个使NEP达极小值的最佳工作频率。
陈祖培.热释电探测器中噪声源的理论分析[J].红外与毫米波学报,1982,1(4):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1982,1(4).]
