辐照对硅光电二极管可靠性影响的研究
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O571.6 TN364.1

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    本文介绍了辐照对硅光电二极管的辐射效应和损伤机制。比较了γ射线、电子、质子、中子以及重离子辐照后,光电二极管各项特性参数的变化。根据辐照对半导体的作用原理,解释不同辐照引起的变化规律。寻求抗辐射加固方法,改善光电二极管的抗辐射性能。

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张建新.辐照对硅光电二极管可靠性影响的研究[J].红外,2005,(9):25-31.

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