由美国海军研究实验室研究出来的一种新的双光子吸收技术可用来测试半导体的辐射灵敏度,从而可把用于空间和地面先进仪器的集成电路做得更坚固。当一个高能粒子或者一个光子穿过一个电路时,它会在很小的局部留下电荷痕迹,后者会产生一些单一事件效应,例如丢失数据、错误的结果或者器件故障等。由于集成电路都用不透明的材料封装,因此这种单一事件效应最易在高能粒子密集的空间环境中发生。然而,人们更关心在地而或者航空应用中的器件所涉及到的这一问题。