半导体器件的可靠性
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TN303

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    可靠性技术是20世纪50年代发展起来的一门综合性技术,它包括可靠性数学、可靠性试验、失效分析、可靠性管理以及设计、生产和维护使用中的质量控制及可靠性保证等方面。本文对可靠性数学、可靠性试验、失效分析以及可靠性技术发展现状作一介绍。

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引用本文

刘大福.半导体器件的可靠性[J].红外,2003,(5):11-20.

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