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工业X射线CT在红外焦平面探测器中的应用
投稿时间:2019-07-23  修订日期:2019-07-25  点此下载全文
引用本文:李乾,李达,王丛,申晨,折伟林,刘铭,郭祥祥,晋舜国.工业X射线CT在红外焦平面探测器中的应用[J].红外,2019,40(8):31~36
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作者单位E-mail
李乾 华北光电技术研究所 liqianbuaa@126.com 
李达 华北光电技术研究所  
王丛 华北光电技术研究所  
申晨 华北光电技术研究所  
折伟林 华北光电技术研究所  
刘铭 华北光电技术研究所  
郭祥祥 华北光电技术研究所  
晋舜国 华北光电技术研究所  
中文摘要:介绍了工业X射线CT测试仪在红外焦平面探测器中的应用。利用CT可以非破坏性地对杜瓦组件和制冷机进行探伤分析,尤其是探测内部结构故障和缺陷,提高故障问题分析能力和解决效率,为组件返修提供充分依据。后续还能够根据需求筛选合格样品,提高了产品的用户体验,是后续生产工艺的重要保障。
中文关键词:杜瓦  制冷机;X射线CT
 
Application of Industrial X-ray CT in Infrared Focal Plane Detectors
Abstract:The application of industrial X-ray CT testers in infrared focal plane detectors is introduced. The CT can be used to non-destructively analyze the dewar components and refrigerators, especially to detect internal structural faults and defects. It can improve fault analysis ability and the efficiency of solving problems, which provide sufficient basis for component rework. In the following work, qualified samples can be selected according to the demand.This improves the user experience of the product and is an important guarantee for the subsequent production process.
keywords:dewar  refrigerator  X-ray CT
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