摘要:近几十年来，针对复杂背景下红外图像序列的天基微弱 运动点目标探测问题备受关注。该问题对于空间监视系 统、预警系统以及导弹跟踪系统等而言十分重要。受各方面的影 响，天基微弱点目标检测、跟踪和识别研究仍然面临着很多挑 战。仪器抖动和平台运动均会造成目标定位偏差。受制于观测距 离和天基成像环境，目标往往会淹没在背景杂波或噪声之中。因此，如 何在低信杂噪比的情况下快速、准确地探测和识别运动点目 标，并满足检测率和虚警率指标，是相关领域亟待解决的问题。 对近年来国内外相关领域的研究进行了分类和总结，以期在此基 础上寻求新的探索和发现。

摘要:结合X射线衍射技术以及逐层化学 腐蚀剥离损伤层的方法，定量分析了InSb晶体 由于切割、研磨、抛光等工艺所引入的损伤层的深度，并探讨了 损伤层结构及引入因素。研究结果表明，切割加工是引入InSb晶 片表面损伤层的主要工序，其表面损伤层的深度达 到16 μm左右；双面研磨的InSb晶片表面的损伤层深度约 为12 μm；经机械化学抛光加工后的InSb晶片表面的损伤层深 度明显减小，约为2 μm。

摘要:能在高温下工作的InSb基InAlSb红外探测器是新一代红外探测器的发展方向。对衬底表面氧化层的研究是该研究方向的基础。利用椭偏仪(Spectroscopic Ellipsometry，SE)、X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)对用现工艺生长的InSb衬底表面氧化层进行了分析。从常用的腐蚀液中挑选了较优的腐蚀液，调节配比，试验加入无机酸后的效果，获得了较优的表面氧化层处理液。对处理后的表面氧化层的稳定性进行了对比，分析了其主要成分的变化，最终获得了满足Epi-ready InSb晶片表面氧化层参数的衬底，为后面高温工作探测组件的研究打好了基础。

摘要:利用中波红外和长波红外热像仪对某型 喷气飞机发动机尾焰的红外辐射特性进行了测量，得到了3～5 μm 和8～12 μm波段的尾焰辐射亮度分布。结果表明，从飞机 尾向上观测到的中波红外和长波红外尾焰均成对称分布，前者的最高辐射亮 度和尾焰面积分别是后者的4.6倍和2.1倍；从飞机侧向上观测到的 中波红外尾焰的最高辐射亮度、尾焰长度和面积分别是长波红外尾焰 的2.2倍、3.8倍和5.7倍，前者的优势非常明显。另外，受高温尾焰加热的影响，尾 焰周围空气的温度明显上升，使其辐 射亮度高于其他背景的辐射亮度。本文获得的测量结果对尾焰红外辐射特性仿 真和计算研究具有一定的参考价值。

摘要:针对传统的接触式电参数故障检测方法 难以满足日益复杂的电子装备的检修需要问题，提出了一种基 于红外热像的可提升非接触式电子装备异常 检测性能的温升多特征方法。在红外与光学异源配准的基础上，获得电子 装备各元件的精确位置。然后基于红外观测图像获取 各个标准和待测元件中心区域的温升均值曲线。在对这些曲线进行全帧 程分段后，精细化地提取温升统计矢量。接着计算待测温升统计 矢量与标准温升统计矢量的差异并对其进行归一化处理，从而构建温升多特 征矢量。最后根据该矢量，通过分段表决和异常 量化实现电子装备热像异常的整体态势感知。与传统的热像 异常检测方法相比，本文所构建的温升多特征矢量可以更精细、更 稳健地描述温升变化。通过分段表决和异常量化实现了温升全程表征，为后续的电路 故障智能推理奠定了基础。实验结果表 明，本文方法具有检测准确率高、实时性好等优点。

摘要:用AFORS-HET软件对β-FeSi2(n)/c-Si(p)太阳能电池的发射层进行了梯度掺杂模拟，并研究了发射区掺杂总量相同时梯度掺杂和均匀掺杂对电池转化效率的影响。分别讨论了梯度掺杂时发射区的能带、发射区的浓度差、发射区的层数对电池转化效率的影响。实验结果表明，发射区梯度掺杂可以明显提高电池转化的效率。随着发射区各层浓度比的增大，电池转化效率先增大后保持不变；随着发射区层数的增加，电池转化效率先增大后保持不变；随着发射区厚度的增加，电池转化效率逐渐降低。梯度掺杂电池转化效率的提高总量远大于因梯度发射区过厚造成的电池转化效率的降低总量。

摘要:基于Landsat TM和OLI/TIRS数据反演了呼和浩特 区域的地表温度。经MODIS地表温度产品检验，反演结果的精度较好，平 均相对误差为5%，均方根误差为1.53℃ (R=0.88)。研究结果表明，不 同类型地表的温度不同，最高值出现在建筑用地上，最低值出现在植被和 水体覆盖区域。地表温度与建筑用地、裸地和半裸地分布之间呈正相 关，而与植被分布呈负相关。建筑用地和裸地对地表温度的影响较大，而 半裸地和植被对其的影响则较稳定。

摘要:近红外滤光片和中红外带通滤光片在航天、气象和遥感等领域都有重要的应用。红外滤光片是让红外光透过而使其他波长光截止的滤光片，它的主要指标是峰值透过率。带通滤光片的重要指标是峰值透过率和通带半宽度。光学薄膜的膜系结构和具体设计对这些指标起决定性作用。本文主要介绍这两种滤光片的几例实际运用。