
主编:孙胜利 院士
国际标准刊号:ISSN 1672-8785
国内统一刊号:CN 31-1304/TN
国内邮发代号:4-290
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2006(12).
摘要:(一)材料与器件非制冷红外焦平面读出电路的设计与测试分析.....……王张易析建陈西曲等0l(5)热处理过程对HgCdTe光伏探测器性能的影响..................……孙柏蔚胡晓宁01(21) HgCdTe的化学动力学分析.....……王平01(34) CMOS成像传感器的下一步...........……01(44)光子带隙型光子晶体光纤的研究.....……刘艳云侯蓝田李秋菊等02(1) Cdl一。zn,Te的zn组分面分布及均匀性控制...........................…
2006(12):1-3.
摘要:本文将小目标的帧间信息和光流法紧密联系起来,把小目标的检测分为小目标的预处理、帧间差分和使用金字塔迭代Lucas-Kanade的光流法确定目标三个步骤进行。实验结果表明,该方法能够有效地检测运动小目标。
2006(12):4-9.
摘要:介绍了HgCdTeMIS器件的制备及由其C-V特性计算、分析界面电学特性的基本原理和步骤。利用MIS器件高频C-V曲线耗尽区的电学特性推导了衬底杂质浓度随深度分布的计算公式。
2006(12):10-14.
摘要:本文紧扣量子阱中电子跃迁特点,围绕量子阱红外探测器(QWIP)的器件物理和器件应用的研究,分析QWIP的主要物理性质和器件性能,阐述QWIP及QWIP相关器件国内外研究动态,判断其发展趋势和研究方向.
2006(12):15-19.
摘要:(Cd1-xZnxTe)(CZT)材料具有优良的光敏特性和电学性质,其应用领域或多或少都涉及到材料结构完整性的问题,因此材料结构的优化已经成为亟待解决的重要问题之一.本文简要介绍了借助第一性原理的方法研究CZT材料,通过其电子结构的信息对已有的实验表征、缺陷、掺杂对材料的成键机制、悬挂键的分布及能带结构的影响机制加以验证,从而能够为材料的生长机制和器件设计提供有力的理论依据。
2006(12):20-22.
摘要:发射率在多光谱辐射温度计的数据处理中有着至关重要的作用,但由于受到多种因素的影响而很难准确得到.本文基于小波网络,将小波网络与多光谱理论相结合建立了发射率模型,其仿真结果与理想假设值符合得很好,是一种较好的获知目标发射率的方法。
2006(12):23-28.
摘要:根据小波变换用于图像消噪的原理,结合微光图像噪声的闪烁颗粒性特点,对小波变换用于微光图像消噪时的小波基及小波分解层次的选取进行了分析,得出采用Haar小波进行一层分解即可满足微光图像消噪要求的结论。为了选取小波消噪的系数阈值,通过对三幅微光图像小波系数的直方图分析,设计了阈值选取算法,并针对微光图像,得出了消噪的经验阈值。经过仿真实验及算法复杂度的时间分析,在实时性和微光图像消噪效果之间取得了平衡。
2006(12):29.
摘要:在焦平面层,信噪比是设计中一项重要的指标.本文介绍了用等效电子数计算信噪比的方法,分析了其理论基础,并对其进行了讨论。
2006(12):31-35.
摘要:把相干态和任意粒子数态作为分束器的输入态,通过条件测量可以得到被剪切了的输出态。本文研究了这些剪切了的输出态的性质。结果显示,当在某一输出端测量到零个光子时,在另一输出端得到的剪切了的输出态呈现较强的压缩和亚泊松分布等非经典效应,而且这种非经典效应受输入粒子数态的粒子数的影响,即输入粒子数态的粒子数较大时其非经典性相对较强。当在其中一个输出端测量到m(m〉0)个光子时,条件测量后的各输出态在光场性质上表现类似,但也都呈现出明显的压缩和亚泊松分布等非经典效应。尤其值得注意的是,当输入的是单粒子数态时,条件测
2006(12):36-42.
摘要:红外列阵摄像机(IRAC)是Spitzer空间望远镜中的三台焦平面仪器之一。这是一台四通道摄像机,能够同时在3.6μm、4.5μm、5.8μm和8.0μm波长处获取宽带图像。四个通道成对地(3.6μm和5.8μm为一对,另一对为4.5μm和8μm)观测焦平面中两个靠得很近的5.2′×5.2′的视场。摄像机中的四个探测器列阵的尺寸均为256×256元,两个较短波长的通道使用InSb探测器,而两个较长波长的通道则使用Si:As IBC探测器。由于红外列阵摄像机具有高灵敏度、宽视场和四色成像功能,因此是一台得力
2006(12):43-44.
摘要:一、探测器技术 1.集成焦平面列阵技术在激光微小卫星网络中的使用(Shlomi Arnon) 2.基于用分子束外延方法生长的多层结构的小间距Hg1-xCdxTe光导体的性能(Galina V.Chekanova等) 3.结构紧凑的新型中波和长波凝视探测器(Alain Manissadjian等)
2006(12):44-44.
摘要:本发明提供一种用以测量金色衬底非镜面或镜面上的非散射涂层的无损方法.被测表面可以是粗糙的表面,如用化学方法处理过的表面.测量时,先将红外能量发射到一个与金属衬底表面涂层样品物理接触的积分球内。发射的红外能量一部分被涂层吸收,一部分被金属衬底表面反射,还有一部分则被金属衬底散射了.积分球对红外能量总反射比进行积分.红外探测器探测两个波段的总反射比.两个波段之一的总反射比的下降便表明涂层存在或者可以被转换成涂层的量.

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