
主编:孙胜利 院士
国际标准刊号:ISSN 1672-8785
国内统一刊号:CN 31-1304/TN
国内邮发代号:4-290
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2004(2).
摘要:由中科院上海技术物理研究所和华东师范大学共同组建的“成像信息联合实验室”的签约仪式,于2003年12月23日在华东师范大学举行。中科院上海技术物理研究所所长王建宇、华东师范大学校长王建磐出席签约仪式,并在合作协议上签
2004(2).
摘要:1998年以来,马来西亚星载遥感计划在该国国家遥感中心(MACRES)的推动下,得到了积极的发展。为了改进和调整这项计划,经马来西亚政府论证,马来西亚国家遥感中心于该国第八个五年计划期间(2001年-2005年),提出了一个先进机载遥感计划(MARSP),以尽可能快地获得实时数据,满足马来西亚用户需求和满足马来西亚国内
2004(2).
摘要:第二届全国信息获取与处理学术会议将于2004年8月召开(具体时间和地点另行通知),本次会议由中国仪器仪表学会主办,沈阳市仪器仪表与自动化学会承办。本次会议的征文内容如下:一、征文范围 (1)各种测量、计量、检测、监测、探测、测试、实验、试验(以下统称测
2004(2):1-9.
摘要:本文对红外静态地平仪的工作原理、国内外研究状况和关键技术等进行了分析,并在此基础上提出了一种基于面阵焦平面器件和高速信息处理电路技术的红外面阵焦平面静态地平仪的实施方案。
2004(2):10-16.
摘要:全面地测试并分析了峰值波长约为1.55μm的InGaAsP/InP多量子阱型超辐射激光二极管(MQW—SLD)模块的输出光功率、光谱和消光比随注入电流及温度变化的关系。结果表明:在连续工作状态下,此SLD模块显示了软阈值特性,其性能随着注入电流和温度的变化而变化。
2004(2):16-16.
摘要:本发明提供一种多色红外传感器件,即单片多色红外成像列阵。这种器件是通过用分子束外延(MBE)将碲镉汞材料结构直接生长在定制的读出电路上的方式制备的。其具体制备步骤如下:在硅半导体衬底的一个表面上专门设计和制备一个用于直接外延生长的读出集成电路;在该表面上用MBE连续生长具有不同带
2004(2):17.
摘要:表面漏电流能对Hg1-xCdxTe光伏探测器性能产生很大的影响,因此选择合适的钝化工艺尤其重要。本文主要论述了Hg1-xCdxTe光伏探测器表面漏电流机制及其钝化技术的发展状况。
2004(2):25.
摘要:简要介绍了敏感红外辐射的L型探测器的结构和工作原理。利用傅里叶级数理论,给出了一种级数形式的数学模型,并利用MATLAB进行了仿真验证。
2004(2):28-35.
摘要:动态红外景像投影技术是红外硬件闭环仿真(HWIL)和红外成像系统测试和评估的关键技术,随着数字微镜器件(DMD)的研制开发成功,应用DMD产生动态红外景像技术已受到各国研究人员的普遍关注。本文描述了动态红外景像投影技术在仿真和红外成像系统测试中的应用,具体介绍了DMD的工作原理和封装形式及动态红外景像投影系统的工作原理、关键技术和国内外研究现状。
2004(2):36-39.
摘要:本文主要介绍微弱光检测中的关键部件(PMT)和三种检测方法。尤其介绍了光计数法的原理和优点。最后给出了发展趋势。
2004(2):39-39.
摘要:本发明提供一种装有红外和可见光带通控制电路的监视摄像机系统,该摄像机系统能根据环境条件通过电子方式在红外辐射敏感和可见光敏感两种模式之间进行切换。它配备有一个带通滤光片,当摄像机不处在红外模式时,它可以提供高质量的可见光图像,而当摄像机不处在可见光模式时,它则可以提供高质
2004(2):40-45.
摘要:用分子束外延(MBE)方法生长了Ⅱ—Ⅵ族本征甚长波红外(VLWIR,λc约为20μm—50μm)材料——HgCdTe合金和HgCdTe/CdTe超晶格。用X射线衍射、常规傅里叶变换光谱学、霍尔效应测量技术和透射电子显微技术(TEM)对外延层进行了表征。为了验证这些材料在甚长波红外谱区的适用性,用这些材料制成了光导器件并测得了它们的光谱响应。
2004(2):46-46.
摘要:由基于光导和光检波的亚皮秒激光脉冲产生的宽带宽THz脉冲在成像技术、光谱学和介电测量等方面已得到应用。对于化学鉴别、生物医学诊断和高分辨率光谱学来说,可调的相干和单色THz辐射源是重要的工具。但除了价格昂贵的自由电子激光器之外,现在还没有研
2004(2):47-48.
摘要:
2004(2):47-48.
摘要:第一部分:红外成像系统的设计、分 析、建模与测试Ⅻ Ⅰ 一、建模1.斑纹对激光距离选通短波红外成像系统目标识别 性能的影响(特邀论文,R.G.Driggers等,美国 陆军夜视与电子传感器管理局)
2004(2):48-48.
摘要:红外气体传感器由红外光源和红外探测器两部分组成。红外探测器仅对红外辐射的变化起作用。在进行测量时,传统的做法是利用一调制盘对来自光源的光进行调制,使热光源与冷调制盘遮光板之间产生大的温度幅度。然后,脉冲辐射便可以被准确计算出来。然而,这种技术需要依赖于昂贵的、不灵活的、易损的设

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