采用电阻热蒸镀法,分别以不同的沉积温度在锗基底上制备了PbTe薄膜.用x射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)和红外光谱测试仪(System2000)表征了不同沉积温度下薄膜的微结构和光学特性.结果表明,沉积温度对PbTe薄膜的结构、择优取向、生长方向、晶粒大小,禁带宽度以及短波吸收限均有明显影响.
魏迎春,马勉军.沉积温度对PbTe薄膜结构和光学性能的影响[J].红外,2008,29(8).
