GaN折射率的椭圆偏振光谱研究
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

O472.3

基金项目:


STUDY ON REFRACTIVE INDEX OF GaN BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY
Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    利用400~1200nm波段的椭圆偏振光谱对生长在蓝宝石衬底上的非故意掺杂纤锌矿氮化镓(GaN)外延薄膜进行了研究.通过拟合实验数据获得了GaN薄膜的厚度和在可见-近红外区域的折射率色散关系,即n^2(A)=2.26^2 330.1^2/((λ/nm)^2-265.7^2).利用这一公式研究了GaN紫外-可见波段的反射光谱,计算得到的GaN薄膜厚度,与椭偏光谱结果一致,两者偏差仅为0.68%.

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

连传昕 李向阳 刘骥. GaN折射率的椭圆偏振光谱研究[J].红外与毫米波学报,2004,23(4):262~264]. LIAN Chuan-Xin, LI Xiang-Yang, LIU Ji . STUDY ON REFRACTIVE INDEX OF GaN BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY[J]. J. Infrared Millim. Waves,2004,23(4):262~264.]

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:2003-07-22
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期: