BaxSr(1—x)TiO3多层膜椭偏光谱研究
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O484.43 O484.41

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广东省自然科学(批准号021771),教育部留学回国人员科研启动基金和香港理工大学智能材料中心基金资助


SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY STUDIES OF BaxSr(1-x)TiO3 MULTILAYER STRUCTURE
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    用溶胶-凝胶技术在Bi(100)衬底上制备了单层和渐变型多层的BaxSr(1-X)TiO3薄膜,其膜层组分分别为:Ba0.7Sr0.3TiO3,Ba0.8Sr0.2TiO,Ba0.9Sr0.1TiO3,BaTiO3,对生长制备出的多层BaxSr(1-X)TiO3薄膜进行了变角度椭偏光谱测量,通过椭偏光谱解谱分析研究,首次得到了BaxSr(1-X)TiO3多层膜结构不同膜层的膜厚和光学常数,其结果显示:椭偏光谱分析得到的不同膜层的膜厚与卢瑟福背向散射测量得到的结果基本相符;渐变型多层膜中BaTiO3薄膜的折射率比单层BaTiO3薄膜折射率大许多,与体BaTiO3的折射率相接近,这说明渐变型多层膜中BaTiO3薄膜的光学性质与体材料的光学性质接近。

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引用本文

张曰理 S. U. Adikary 等. BaxSr(1—x)TiO3多层膜椭偏光谱研究[J].红外与毫米波学报,2003,22(1):13~17]. ZHANG Yue-Li MO Dang. SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY STUDIES OF BaxSr(1-x)TiO3 MULTILAYER STRUCTURE[J]. J. Infrared Millim. Waves,2003,22(1):13~17.]

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  • 最后修改日期:2002-08-26
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