(HgCd)Te探测器Franz-Keldysh效应有效强度的一种表征方法
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总装备部“九?五”预研 (编号 2 .3.4.3)资助项目~~


A METHOD FOR CHARACTERIZING EFFECTIVE INTENSITY OF FRANZ-KELDYSH EFFECT IN (HgCd)Te DETECTORS
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    摘要:

    提出一种表征 ( Hg Cd) Te探测器 Franz- Keldysh效应有效强度的简易方法 ,即用 ( Hg Cd) Te探测器在反偏压及零偏压时的输出电压比来表征其 Franz- Keldysh效应有效强度的强弱 ,实验结果证实了这种方法有效、可行 .

    Abstract:

    A simple method for characterizing effective intensity of Franz Keldysh effect of (HgCd)Te detectors was presented.It is using the output ratio of different bias voltage instead of wavelength shift to characterize effective intensity of Franz Keldysh effect. The experimental result shows this method is effective and practical.

    参考文献
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    引证文献
引用本文

李正东,叶玉堂,吴云峰,舒海洪,何琳玲,李德智,吴泽明.(HgCd)Te探测器Franz-Keldysh效应有效强度的一种表征方法[J].红外与毫米波学报,2001,20(5):353~355]. LI Zheng Dong YE Yu Tang WU Yun Feng SHU Hai Hong HE Ling Ling LI De Zhi WU Ze Ming. A METHOD FOR CHARACTERIZING EFFECTIVE INTENSITY OF FRANZ-KELDYSH EFFECT IN (HgCd)Te DETECTORS[J]. J. Infrared Millim. Waves,2001,20(5):353~355.]

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