MOCVD生长的平面型InGaAs/InP PIN光电探测器件
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TN361

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PLANAR InGaAs/InP PIN PHOTODETECTORS GROWN BY MOCVD
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    讨论了采用MOCVD技术生长的平面型InGaAs/InPPIN器件的光学特性及制备工艺。通过引入InP窗口层并制备合适的抗反射膜,大大提高了器件的量子效率,达到~96%,采用平面型结构有可能改善器件的稳定性和可靠性。

    Abstract:

    The optical characteristics and fabrication process of planar InGaAs/InP PIN devices grown by MOCVD are discussed in this paper. After growing an InP window layer on the InGaAs absorption layer and fabricating an appropriate antireflection coating, the quantum efficiency of.the planar PIN devices increases obviously, reaching approximately 96%. At the same time, the stability and reliability of the devices may be improved because of using the planar structure.

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    引证文献
引用本文

杨志鸿,王树堂. MOCVD生长的平面型InGaAs/InP PIN光电探测器件[J].红外与毫米波学报,1993,12(2):155~158]. YANG ZHIHONG, WANG SHUTANG, ZHEN JIN, ZHU LONGDE, SHUN JIE, XIA CHAIHONG, SHEN RONG, GUI QIANG. PLANAR InGaAs/InP PIN PHOTODETECTORS GROWN BY MOCVD[J]. J. Infrared Millim. Waves,1993,12(2):155~158.]

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