MOVPE生长GaAs/AlxGA1—xAs超晶格及其TEM表征
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TN304.26

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MOVPE GROWTH AND TEM CHARACTERIZATIONS OF GaAs/Al_xGa_(1-x)As SUPERLATTICES
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    报道用金属有机汽相外延技术(MOVPE)生长GaAs/Al_xGa_(1-x)As超晶格结构材料及其光电器件应用,用横断面透射电子显微术(XTEM)表征外延层结构.在自电光效应光学双稳态器件(SEED)中,超晶格层-层之间界面清晰,厚度均匀,周期性完整.对某些用超晶格作缓冲层的高电子迁移率晶体管(HEMT)结构,观察到超晶格对生长面的平滑作用及间断生长造成的界面等.

    Abstract:

    MOVPE growth of GaAs/Al_xGa_(1-x)As superlattices and their applications inrelative photoelectric devices are reported. Epilayer quantum heterostructures are charac-terized by using cross-sectional transmission electron microscopy (XTEM). In SelfElectrooptic Effect Devices (SEED), the superlaltice interfaces are abrupt and the barrierand well layers keep good uniformity. In some High Electron Mobility Transistors(HEMT), superlattices used as buffer layers smooth out the growing surface roughness.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

徐现刚 黄伯标. MOVPE生长GaAs/AlxGA1—xAs超晶格及其TEM表征[J].红外与毫米波学报,1992,11(2):139~144]. Xu Xiangang, Huang Baibiao, Ren Hongwen, Liu Shiwen, Jiang Minhua. MOVPE GROWTH AND TEM CHARACTERIZATIONS OF GaAs/Al_xGa_(1-x)As SUPERLATTICES[J]. J. Infrared Millim. Waves,1992,11(2):139~144.]

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