钽酸锂单晶的损耗角正切
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    tgδ产生的热噪声是热释电探测器的主要噪声源,降低tgδ以提高热释电器件性能具有重要意义。实际测量的钽酸锂单晶损耗主要有三个来源: 1)本征损耗tgδ_1。它与材料贯穿电阻R_1及极化建立过程有关。测量频率较低时,钽酸

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

王绍泽.钽酸锂单晶的损耗角正切[J].红外与毫米波学报,1986,5(5):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1986,5(5).]

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期: