我们用碱液聚合-真空电熔法制取了TiO_2含量为1%～9%(重量)的非晶态TiO_2-SiO_2样品。用JY-T800激光喇曼光谱仪,以氩离子激光器的5145(?)线为激发源,测定了纯SiO_2与不同含量的TiO_2-SiO_2样品的HH(散射光偏振方向与入射光偏振方向平行)和HV(散射光和入射光的偏振方向垂直)的斯托克斯频移谱。在TiO_2-SiO_2的HH谱中,除纯SiO_2的
周宇清,李家强,侯兰田.非晶态TiO_2-SiO_2的喇曼光谱与非桥氧结构的研究[J].红外与毫米波学报,1984,3(4):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1984,3(4).]