InSb表面机械损伤层厚度的光谱测定
DOI:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    我们根据InSb的能带结构及反射光谱特性,提出了一种新的利用反射光谱测定损伤层厚度的方法。InSb在紫外光谱区有较明显的反射峰,对应有如下的跃迁:Γ_(15v)→Γ_(15o)(3.45eV),X_(5v)-X_(1c)(4.2eV)和L_(3v)-L_(3o)(5.4eV)。由于表面的机械损伤,将引起反射率的下降,当我们使用适当化学腐蚀液逐次对InSb样品进行腐蚀,并逐次测量其反射光谱,会发现反射光谱

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

张春平,常甲辰,张光寅. InSb表面机械损伤层厚度的光谱测定[J].红外与毫米波学报,1984,3(4):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1984,3(4).]

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期: