单晶硅的光收吸与样品厚度的关系
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    本文研究用压电陶瓷做声接收器,单硅晶的光声(PA)信号与样品厚度的关系。首先对劈形样品进行实验。将样品竖直粘着在压电陶瓷上,并使压电陶瓷的平面与光束方向平行。当激光束在样品上由薄到厚(或由厚到薄)移动时,测出对应每一厚度位置时的光声信号。最初PA信号随样品厚度增加,在样品厚度为0.5mm处,曲线出现一峰值,然后再随样品厚度的增加,PA信号又逐渐减小。为进一步验证实验结果的可靠性,我们又对厚度不同的均

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引用本文

王桂芬,马根源,张光寅.单晶硅的光收吸与样品厚度的关系[J].红外与毫米波学报,1984,3(4):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1984,3(4).]

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