研究了由致密PbZr0.38Ti0.62O3和多孔PbZr0.38Ti0.62O3 膜层交替排列组成的多层膜在温度为420K时的介电行为.在102~106 Hz的频率范围,观测到两种截然不同的介电驰豫.位于低频区的介电损耗峰归因于空间电荷极化.通过俄歇电子谱和电子顺磁共振谱分析,初步判定遵从Arrhenius 律、热激活能为0.49 eV的高频介电驰豫则起源于氧空位V¨0和Ti3+ 形成的极性缺陷复合体V¨0-Ti3+对交变电场的响应.
胡古今,张婷,孙璟兰,朱大明,褚君浩,戴宁. PbZrxTi1-xO3多层膜中与极性缺陷复合体相关的介电驰豫[J].红外与毫米波学报,2009,28(5):]. DIELECTRIC RELAXATION ASSOCIATED WITH DIPOLAR DEFECT COMPLEX IN PbZrxTi1-xO3 MULTILAYER[J]. J. Infrared Millim. Waves,2009,28(5).]
