红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法研究
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STUDY ON TEST METHOD OF TDI FUNCTION FOR INFRARED FOCAL PLANE ARRAY CMOS READOUT CIRCUITS
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    给出了一种新颖的红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法.该方法通过在电测试MOS场效应晶体管栅极施加不同波形的方波激励信号,观察输出电压波形的对应变化,验证TDI功能的信号延迟和累加操作是否正确.应用该方法实际测试了一款TDI型红外焦平面CMOS读出电路,各种激励模式下测试得到的输出波形均与预计的理想输出波形吻合,证明该测试方法可行,且简单、直观、有普适性.

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引用本文

陈中建,鲁文高,唐矩,张雅聪,吉利久.红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法研究[J].红外与毫米波学报,2008,27(5):]. CHEN Zhong-Jian, LU Wen-Gao, TANG Ju, ZHANG Ya-Cong, JI Li-Jiu. STUDY ON TEST METHOD OF TDI FUNCTION FOR INFRARED FOCAL PLANE ARRAY CMOS READOUT CIRCUITS[J]. J. Infrared Millim. Waves,2008,27(5).]

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