基于傅里叶红外光谱仪的光谱发射率测量装置的研制
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O522.2

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国家自然科学基金


DEVELOPMENT OF SPECTRAL EMISSIVITY MEASUREMENT SYSTEM BASED ON FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROMETER ( FTIR )
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    基于傅里叶红外光谱仪成功研制了固体材料光谱发射率测量装置,它由一个试样加热炉、一个参考黑体炉、水浴环境腔体及真空系统等组成,可以实现100~1500 ℃及光谱0.66~25 μm范围内固体材料光谱发射率测量.参考黑体用于对系统的标定,水浴环境腔体和真空系统用来消除环境和大气的影响.装置调试后对某种航天用材料做了测试实验,得到了很有规律的结果.估计了系统的不确定度:发射率不确定度小于2.27%(3δ,ε=0.9),6.80%(3δ,ε=0.3).

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引用本文

王新北,萧鹏,戴景民.基于傅里叶红外光谱仪的光谱发射率测量装置的研制[J].红外与毫米波学报,2007,26(2):149~152]. WANG Xin-Bei, XIAO Peng, DAI Jing-Min. DEVELOPMENT OF SPECTRAL EMISSIVITY MEASUREMENT SYSTEM BASED ON FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROMETER ( FTIR )[J]. J. Infrared Millim. Waves,2007,26(2):149~152.]

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  • 收稿日期:2006-07-17
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