用于低温半导体器件筛选的新型温度循环设备
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TN306

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国防预研基金(514020304zK0703)资助项目


NOVEL THERMAL CYCLE SCREENING EQUIPMENT FOR CRYOGENIC SEMICONDUCTOR COMPONENTS
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    在某些情况下斯特林制冷机采用间歇式工作方式,以延长卫星在太空中的服务年限,因此由斯特林机致冷的低温半导体器件如HgCdTe中长波红外探测器会经受成千上万次从-173℃以下到常温的温度循环,这个过程可能会造成器件的失效.为了研究器件的失效机理和可靠性,帮助筛选器件,本文介绍了一种自制新型的温度循环实验设备,型号TCE-a.经过数千次温度循环,设备满足器件筛选实验要求。

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引用本文

吴礼刚 刘大福 朱三根 吴家荣 洪思敏 龚海梅.用于低温半导体器件筛选的新型温度循环设备[J].红外与毫米波学报,2006,25(2):153~156]. WU Li-Gang, LIU Da-Fu, ZHU San-Gen, WU Jia-Rong, HONG Si-Min, GONG Hai-Mei. NOVEL THERMAL CYCLE SCREENING EQUIPMENT FOR CRYOGENIC SEMICONDUCTOR COMPONENTS[J]. J. Infrared Millim. Waves,2006,25(2):153~156.]

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  • 收稿日期:2005-03-23
  • 最后修改日期:2005-09-21
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