背面直接取样结构电光取样的空间分辨率
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TN15 TN407

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国家自然科学基金 !(编号 696760 2 5 )资助项目&&


SPATIAL RESOLUTION OF ELECTROOPTIC SAMPLING WITH BACK-DIRECT SAMPLING STRUCTURE
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    介绍了电光取样系统空间分辨率的测量原理和方法,实验结果表明,建立的电光取样仪的空间分辨率为3μm。

    Abstract:

    介绍了电光取样系统空间分辨率的测量原理和方法,实验结果表明,建立的电光取样仪的空间分辨率为3μm。

    参考文献
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    引证文献
引用本文

贾刚 陈占国 等.背面直接取样结构电光取样的空间分辨率[J].红外与毫米波学报,2001,20(2):123~125]. JIA Gang CHEN Zhan Guo CAO Jie YI Mao Bin SUN Wei GAO Ding San. SPATIAL RESOLUTION OF ELECTROOPTIC SAMPLING WITH BACK-DIRECT SAMPLING STRUCTURE[J]. J. Infrared Millim. Waves,2001,20(2):123~125.]

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