倍频移相扫描法电光采样测量
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TN430.7

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THE ELECTRO OPTIC SAMPLING MEASUREMENT WITH MULTIPLE FREQUENCY PHASE SHIFT SCANNING METHOD
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    分析了倍频移相扫描法的工作原理,介绍了用倍频移相扫描法构成的电光采样测量系统.测量了高速GaAs动态分频器集成电路芯片,并给出分频关系波形的测量结果.

    Abstract:

    The principle of multiple frequency phase shift scanning method was analyzed. The electro optic sampling system constructed with the multiple frequency phase shift scanning method was introduced. An integrated circuit chip of high speed GaAs dynamic freqnency dividing circuit was measured, and the measured frequency dividing waveform was presented.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

田小建 马振昌.倍频移相扫描法电光采样测量[J].红外与毫米波学报,1997,16(3):189~192]. Tian Xiaojian Yi Maobin Sun Wei Jia Gang Sun Jianguo. THE ELECTRO OPTIC SAMPLING MEASUREMENT WITH MULTIPLE FREQUENCY PHASE SHIFT SCANNING METHOD[J]. J. Infrared Millim. Waves,1997,16(3):189~192.]

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