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国家高技术研究计划资助
介绍了表征光学系统抑制水平的定量指标——点源透过率ＰＳＴ．提出了红外光学系统杂光指标ＰＳＴ的一种测试方法，并在１０．６μｍ波长处，测试了口径为１８０ｍｍ的全反射Ｒｉｔｃｈｅｙ－Ｃｈｒｅｔｉｅｎ红外系统在不同入射角时的点源透过率ＰＳＴ（θ）．
廖胜 沈忙作.红外光学系统杂光PST的研究与测试[J].红外与毫米波学报,1996,15(5):375~378]. Liao Sheng Shen Mangzuo. POINT SOURCE TRANSMITTANCE OF STRAY LIGHT OF INFRARED OPTICAL SYSTEMS AND ITS MEASUREMENTS[J]. J. Infrared Millim. Waves,1996,15(5):375~378.]
