O484.4 TN213
报道了用液相外延技术生长Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ薄膜的工艺及分析薄膜特性的方法，结果Ｈｇ气压，过冷度，降温速率及退火条件等因素对液相外延薄膜的性能有很大影响，由Ｘ射线双晶回摆曲线可定量分析点阵失配度及外延层的组份，由红外透射光谱确定外延层组份的纵向分布。
李标 陈新强.液相外延生长Hg1—xCdxTe薄膜及其特性分析[J].红外与毫米波学报,1995,14(3):216~222].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1995,14(3):216~222.]
