毫米波准光腔双层介质电介质参数测量新技术
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TM930.126

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A NEW TECHNIQUE FOR DIELECTRIC MEASUREMENT OF DOUBLE-LANERED DIELECTRIC SAMPLES USING A QUASI-OPTICAL RESONATOR AT MILLIMETER WAVE BANDS
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    提出了一种利用毫米波准光腔测量双层介质电个质参数的新技术.在8毫米波段,建立了一套准光腔测量系统,并对几种双层介质样品进行了实际测量.

    Abstract:

    A new technique for diclectric measurement of double-layered dielectric samples using a quasi-optical resonator at millimeter wave bands is proposed. At 8 mm band. a set of quasi-optical resonator measurement system was set up, and a number of double layered dielectric samples were measured.

    参考文献
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    引证文献
引用本文

夏军 梁昌洪.毫米波准光腔双层介质电介质参数测量新技术[J].红外与毫米波学报,1994,13(4):285~288]. Xia Jun, Liang Changhong. A NEW TECHNIQUE FOR DIELECTRIC MEASUREMENT OF DOUBLE-LANERED DIELECTRIC SAMPLES USING A QUASI-OPTICAL RESONATOR AT MILLIMETER WAVE BANDS[J]. J. Infrared Millim. Waves,1994,13(4):285~288.]

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