介绍了一种测定薄膜材料光学常数的简易方法,它的最大优点是只需要知道薄膜材料的透射光谱。薄膜的光学常数和厚度测试精度优于1%,并给出了PbTe、ZnSe薄膜在室温及低温下的折射率。
冯伟亭,严义埙.测量薄膜材料n、H、d的简易方法及其在低温测量中的应用[J].红外与毫米波学报,1990,9(1):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1990,9(1).]
