本文报道了邻苯二甲酸氢铷(RAP)单晶的热释电、介电、直流电导等性能,并用差热和失重分析法对高温热电的温度特性给予定性解释。同时,用正电子湮没分析法成功地测定了极轴正负方向的负性单空位分布,发现极轴正负端面正电子湮没寿命及其强度明显不同,证实了RAP单晶的直流电导是热缺陷造成的,提出了用正电子湮没法可作为非破坏性检测极性晶体正负方向的新方法。