本文报道利用热释电效应测量研究C轴方向单晶样品相变特性。当20℃≤T≤128℃时,用电荷积分法测量,未发现单晶发生相变迹象;当100℃≤T≤170℃时,用等速加热法测量,发现在T=135℃附近热释电电流反向;证实了N.Doshi等给出的TAM晶体的相变温度T_0=134.3℃。
史子康. TAM单晶相变的热释电特性[J].红外与毫米波学报,1987,6(6):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1987,6(6).]
