介绍了由HP-85小型计算机控制的红外自动薄膜折射率测量仪,测量了多种常用红外光学薄膜的折射率,其相对均方根偏差均小于0.2%。分析了膜层的制备质量、消光系数、厚度以及系统的稳定性对测量准确性的影响。
张凤山,曹永良,朱红兵.红外自动薄膜折射率测量仪[J].红外与毫米波学报,1986,5(4):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1986,5(4).]
