本文介绍各种用于半导体物理研究的时间分辨非线性光学测量技术,其中包括热荧光相关测量、透射相关测量、粒子数混合技术、频率上转换技术和激发-探测技术,并给出一些具有代表性的研究成果。
徐仲英.半导体中的微微秒和毫微微秒光谱[J].红外与毫米波学报,1985,4(6):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1985,4(6).]
