图1所示为中科院上海技术物理研究所研制成功的HD-400型红外测温仪;该仪器已于一九八四年十月在上海通过所级技术鉴定,并已批量生产。该仪器能同时对目标的比辐射率及环境辐射进行修正,因此它既可以测定目标的表观辐射温度,也可以测定目标的真实表面温度。该仪器灵敏度高,
张才根. HD-400型红外测温仪[J].红外与毫米波学报,1985,4(3):].[J]. J. Infrared Millim. Waves,1985,4(3).]
