溶胶-凝胶非硫化法制备铜锌锡硫薄膜
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华东师范大学 电子工程系 极化材料与器件教育部重点实验室,华东师范大学 电子工程系 极化材料与器件教育部重点实验室,华东师范大学 电子工程系 极化材料与器件教育部重点实验室,华东师范大学 电子工程系 极化材料与器件教育部重点实验室,华东师范大学 电子工程系 极化材料与器件教育部重点实验室,华东师范大学 电子工程系 极化材料与器件教育部重点实验室

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国家自然科学基金项目(面上项目,重点项目,重大项目)


Cu2ZnSnS4 films fabricated by a simple sol-gel process without sulfurization
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Key Laboratory of Polar Materials and Devices,Ministry of Education,East China Normal University,Key Laboratory of Polar Materials and Devices,Ministry of Education,East China Normal University,Key Laboratory of Polar Materials and Devices,Ministry of Education,East China Normal University,Key Laboratory of Polar Materials and Devices,Ministry of Education,East China Normal University,Key Laboratory of Polar Materials and Devices,Ministry of Education,East China Normal University,Key Laboratory of Polar Materials and Devices,Ministry of Education,East China Normal University

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    摘要:

    采用溶胶-凝胶非硫化方法制备了表面平整、致密的铜锌锡硫薄膜.XRD及Raman分析表明制备的铜锌锡硫薄膜为锌黄锡矿结构.能谱分析表明所有薄膜均贫铜富锌贫硫.场发射扫描电子显微镜测得薄膜的厚度在0.7μm左右.透射光谱表明随后退火温度的提高薄膜的光学带隙从2.13eV减小到1.52eV.

    Abstract:

    Cu2ZnSnS4 (CZTS) films with a smooth and compact morphology were obtained via a sol-gel process. Raman spectra and X-ray diffraction (XRD) results indicate that all the films have the kesterite structure. Energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) suggests that all of CZTS films are of S-deficient, Cu-poor and Zn-rich states. The thickness of all the films is around 0.7μm measured by a field emission scanning electron microscope (FE-SEM). Transmission spectra reveal that the optical band gap (Eg) of samples reduces from 2.13 to 1.52eV as post-annealing temperature goes up.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

张克智,何 俊,王伟君,孙 琳,杨平雄,褚君浩.溶胶-凝胶非硫化法制备铜锌锡硫薄膜[J].红外与毫米波学报,2015,34(2):129~133]. ZHANG Ke-Zhi, HE Jun, WANG Wei-Jun, SUN Lin, YANG Ping-Xiong, CHU Jun-Hao. Cu2ZnSnS4 films fabricated by a simple sol-gel process without sulfurization[J]. J. Infrared Millim. Waves,2015,34(2):129~133.]

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  • 收稿日期:2014-02-10
  • 最后修改日期:2015-02-02
  • 录用日期:2014-06-06
  • 在线发布日期: 2015-05-18
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