一种优化的微测热辐射计热学参数性能测试分析方法
DOI:
作者:
作者单位:

电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室,电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室,电子科技大学 电子薄膜与集成器件国家重点实验室

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:

国家自然科学基金项目(60806021)


An improved test and analyze method for microbolometer thermal performances
Author:
Affiliation:

State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China,State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China,State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    优化的微测热辐射计热学参数的测试方法,与传统测试方法相比,能够实现热导和响应时间的精确测量,克服热学参数评估依赖仿真的缺陷,且该方法易于实现,工程应用性强.通过对研制的微测热辐射计性能进行相应的测试,确定了该测试方法准确、可靠.

    Abstract:

    An improved test method was introduced. Compared with the traditional one, it could be more precision and impersonal. Nevertheless it is easy to implement and anti-influence of fabricated process. Through the test process with the microbolometers fabricated, this test method is reliable and precision.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

刘子骥,吕坚,郑兴,蒋亚东,王涛.一种优化的微测热辐射计热学参数性能测试分析方法[J].红外与毫米波学报,2012,31(2):183~187]. LIU Zi-Ji, LV Jian, ZHENG Xing, JIANG Ya-Dong, WANG Tao. An improved test and analyze method for microbolometer thermal performances[J]. J. Infrared Millim. Waves,2012,31(2):183~187.]

复制
分享
文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:2011-04-06
  • 最后修改日期:2011-12-12
  • 录用日期:2011-05-16
  • 在线发布日期: 2012-04-23
  • 出版日期: